Efecto de capacitancia de fuga y las perturbaciones de frecuencia sobre la precisión de medición de R

La capacitancia de fuga (C) crea una vía de fuga para la señal de medición y reduce el nivel de la señal útil que fluye a través de la resistencia de aislamiento (R).

El IMD inyecta una señal de medición multifrecuencia adaptativa con bajas frecuencias e incluye algoritmos de integración de alto rendimiento. Esto hace que el dispositivo sea compatible con sistemas de alimentación de gran tamaño que presentan un valor de capacitancia de fuga alto y funcionan fuera del rango de perturbaciones de frecuencia. Al ser compatible con IMD, el dispositivo funciona correctamente incluso bajo los efectos de la capacitancia de fuga y las perturbaciones de frecuencia.