7ZH02-0423-02

泄露电容和频率扰动对 R 测量精度的影响

泄漏电容 (C) 为测量信号创建泄漏路径,并降低流过绝缘电阻 (R) 的有用信号的电平。

IMD 注入低频自适应多频测量信号,并采用高性能集成算法。它使设备与具有高泄漏电容值的大型电力系统兼容,并且工作在频率干扰范围之外。因此,该设备即使受到泄漏电容和频率干扰的影响,也能正常运行。

对于使用开关模式测量信号的其他设备,泄漏电容 (C) 对绝缘电阻 (R) 的测量精度有影响。

设备在泄漏电容高达 500 μF 的电力系统中运行。

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