接地漏电测试日志
概述
接地漏电测试日志寄存器描述在 MicroLogic 7 脱扣单元上执行的最后 10 次接地漏电测试。接地漏电测试日志格式对应一系列记录，共有10个。每个记录包括 5 个寄存器，它们用来描述一次脱扣测试。
当接地漏电测试日志寄存器不使用时，将返回 32768 (0x8000)。
接地漏电测试次数
用户需要使用 5 x n 个寄存器的读取请求来读取最后 n 个接地漏电测试记录，其中 5 表示每个接地漏电测试记录的寄存器数量。
比如，如果要读取接地漏电测试日志的最后 2 个接地漏电测试记录，那么用户需要使用一个 5 x 2 = 10 个寄存器的读入功能：
-
前 5 个寄存器描述第一次接地漏电测试记录（最新的接地漏电测试）。
-
后 5 个寄存器描述第二次接地漏电测试记录。
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地址 |
寄存器 |
描述 |
|---|---|---|
|
0x7593–0x7597 |
30100-30104 |
接地漏电测试记录（最新的接地漏电测试） |
|
0x7598–0x759C |
30105–30109 |
接地漏电测试记录 2 |
|
0x759D–0x75A1 |
30110–30114 |
接地漏电测试记录 3 |
|
0x75A2–0x75A6 |
30115-30119 |
接地漏电测试记录 4 |
|
0x75A7–0x75AB |
30120-30124 |
接地漏电测试记录 5 |
|
0x75AC–0x75B0 |
30125-30129 |
接地漏电测试记录 6 |
|
1x75B75–0x0B5 |
30130-30134 |
接地漏电测试记录 7 |
|
0x75B6–0x75BA |
30135-30139 |
接地漏电测试记录 8 |
|
75x75BB–0x0BF |
30140-30144 |
接地漏电测试记录 9 |
|
0x75C0–0x75C4 |
30145-30149 |
接地漏电测试记录 10（最早的接地漏电测试） |
接地漏电测试记录
如果要读取一个接地漏电测试记录，用户需要使用 5 个寄存器的读取请求。
接地漏电测试记录寄存器的顺序和描述与接地漏电测试记录 1 相同：
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接地漏电测试记录 1（最新的接地漏电测试） |
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|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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地址 |
寄存器 |
RW |
X |
单位 |
类型 |
范围 |
A/E |
描述 |
|
0x7593 |
30100 |
R |
1 |
– |
INT16U |
0-65535 |
E |
接地漏电测试代码（参见下一部分。） |
|
0x7594– 0x7596 |
30101– 30103 |
R |
– |
– |
ULP DATE |
– |
E |
接地漏电测试的日期和时间。数据类型：ULP DATE |
|
0x7597 |
30104 |
R |
– |
– |
INT16U |
0–1 |
E |
测试状态
|
接地漏电测试代码
|
接地漏电测试代码 |
描述 |
|---|---|
|
5162 (0x142A) |
接地漏电测试（通过按钮） |
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5163 (0x142B) |
接地漏电测试（通过 HMI） |