热记忆

简介

热记忆用于模拟因导体中电流变化所致的温升和冷却。

这些变化可能由以下因素造成：

• 反复启动电机

• 负载在保护设置附近波动

• 故障时，断路器反复合闸

不支持热记忆的 脱扣单元（与双金属条热保护相反）不会对上述类型的过载做出反应，因为这些过载的持续时间不足以引起脱扣。但是，每次过载都会导致温升，且累积效应会导致危险的过热。

支持热记忆的 脱扣单元会记录每次过载造成的温升。即使非常短的过载也会产生热记忆。这些热记忆可缩短脱扣时间。这些存储在热存储器中的信息可缩短脱扣时间。

TS 脱扣单元和热存储器

TS 脱扣单元标配支持热记忆。

• 对于保护功能，在脱扣之前，温升和冷却时间常数是相等的，取决于相关的时间延迟：

  • 如果时间延迟短，则时间常数低

  • 如果时间延迟长，则时间常数高

• 对于长延时保护，脱扣后，由 脱扣单元模拟冷却曲线。在时间常数结束（约15分钟）前，断路器合闸会缩短脱扣曲线中指示的脱扣时间。

短延时保护和间歇性故障

对于短延时保护功能，不触发脱扣的间歇电流存储在 TS 存储器中。此信息相当于长延时热记忆，能够减少短延时保护的时间延迟。

接地故障保护和间歇性故障

接地故障保护实现的功能与短延时保护相同。