7ES02-0423-02

Efecto de capacitancia de fuga y las perturbaciones de frecuencia sobre la precisión de medición de R

La capacitancia de fuga (C) crea una vía de fuga para la señal de medición y reduce el nivel de la señal útil que fluye a través de la resistencia de aislamiento (R).

El IMD inyecta una señal de medición multifrecuencia adaptativa con bajas frecuencias e incluye algoritmos de integración de alto rendimiento. Esto hace que el dispositivo sea compatible con sistemas de alimentación de gran tamaño que presentan un valor de capacitancia de fuga alto y funcionan fuera del rango de perturbaciones de frecuencia. Por tanto, el dispositivo funciona correctamente incluso bajo los efectos de la capacitancia de fuga y las perturbaciones de frecuencia.

En otros dispositivos que utilizan señales de medición del modo de conmutación, la capacitancia de fuga (C) tiene un impacto sobre la precisión de medición de la resistencia de aislamiento (R).

El dispositivo funciona en sistemas de alimentación con una capacitancia de fuga de hasta 500 μF.

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