7FR02-0423-02

Effet de la capacitance de fuite et des perturbations de la fréquence sur la précision des mesures de R

La capacitance de fuite (C) crée un chemin de fuite pour le signal de mesure et réduit le niveau du signal utile qui circule à travers la résistance d’isolement (R).

L’IMD injecte un signal de mesure multi-fréquence adaptatif avec de basses fréquences et comprend des algorithmes d’intégration de haute performance. Il rend l’appareil compatible avec les réseaux de grande puissance qui ont une valeur de capacitance de fuite élevée et fonctionne dans la plage de perturbation de fréquence. L’appareil fonctionne donc correctement même avec l’impact de la capacitance de fuite et les perturbations de fréquence.

Pour les autres appareils utilisant les signaux de mesure en mode commutation, la capacitance de fuite (C) a un impact sur la précision de la mesure de la résistance d’isolement (R).

L’appareil fonctionne avec des systèmes d’alimentation avec une capacitance de fuite jusqu’à 500 μF

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