Auswirkung von Ableitkapazität und Frequenzstörungen auf die Messgenauigkeit von R

Die Ableitkapazität (C) verursacht eine Kriechstrecke für das Messsignal und verringert den Pegel der Nutzsignale, die durch den Isolationswiderstand (R) fließen.

Das IMD speist ein adaptives Mehrfrequenz-Messsignal mit niedrigen Frequenzen ein und bezieht dabei Hochleistungs-Integrationsalgorithmen mit ein. Dadurch ist das Gerät kompatibel mit großen Stromversorgungsnetzen, die eine hohe Ableitkapazität aufweisen, welche aus dem Frequenzstörungsbereich heraus arbeitet. Das Gerät funktioniert also selbst bei vorhandenen Auswirkungen der Ableitkapazität und Frequenzstörungen ordnungsgemäß.

Für andere Geräte, die Schaltmodus-Messsignale nutzen, wirkt sich die Ableitkapazität (C) auf die Messgenauigkeit des Isolationswiderstands (R) aus.

Das Gerät funktioniert in Stromversorgungsnetzen mit einer Ableitkapazität von bis zu 500 μF.