MicroLogic E 脱扣单元的脱扣日志

MicroLogic E 脱扣单元的脱扣日志可用于分析断路器脱扣，从而提高设备的整体可用性。

脱扣日志以列表形式显示最近 10 次脱扣。

对于每次脱扣，将记录并显示以下信息：

• 脱扣原因：Ir, Isd, Ii, Ig 或自动保护 (Ap) 脱扣

• 脱扣的日期和时间（需要通讯选件），以便设置日期和时间

脱扣原因列表：

• 过载 (Ir)

• 短路（Isd 或 Ii）

• 接地故障 (Ig)

• 自动保护 (Ap)

有关更多信息，请参阅显示脱扣日志。